Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karakterizasyonu Ve Temel Ilkeleri Ziya Engin Erkmen

Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karakterizasyonu ve Temel İlkeleri başlıklı bu çalışmanın, ülkemizde bu konuda mevcut bir literatür eksikliğini gidermesi amaçlanmıştır. Eserde, optik mikroskop teknikleri, polarizasyon, X-ışınları ve elektron difraksiyonu, kristal yapısının belirlenmesi, elektron mikroskopisi ve spektroskopisi, Termal Analiz Süreçleri, FTIR (Fourier Transform Infrared Spektroskopisi), Floresan Mikroskopisi, DTEM (Dinamik Transmisyon Elektron Mikroskopisi), AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) bir bütün olarak ele alınmış ve fizik problemleriyle desteklenmiştir. Sınav, ödev soruları ve cevapları da öğrencilere uygulama olması açısından ilave edilmiştir. Okuyucu, ayrıca Ek’ler kısmında ana metin ile ilgili daha karmaşık matematik çözümleri, ekstra tabloları, konularla ilgili örnekleri, buluşlara imza atmış tanınmış bilim insanlarının biyografilerini ve bilim tarihi ile ilgili makaleleri bulacaktır.